+7 (495) 663-30-39

+7 (495) 663-30-67

Er-LEED, Auger, XPS, TOF SIMS и др.

Анализ поверхности образцов методами времяпролетной масс-спектрометрии

Английская компания Kore (http://www.kore.co.uk) спроектировала и серийно производит новый компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки по цене примерно в 3 раза меньшей, чем исследовательские приборы класса Hi-End. Данный инструмент спроектирован как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10-3 а.е.м. Подробнее…

  • Анализ поверхности методом ВИМС
  • Поверхностная масс-спектрометрия
  • Анализ проводников и диэлектриков
  • Анализ положительных и отрицательных вторичных ионов
  • Разрешение лучше чем 2000 M/?M (возможно до 3000 )
  • Анализатор типа Рефлектрон
  • Диапазон исследуемых масс >1000m/z
  • Возможность распыления образца для очистки поверхности
  • 5 мин откачки для начала анализа образца
  • Пролучение спектра образца в течение менее минуты
  • Компактный прибор
  • Очень доступная цена
  • Есть возможность дооснащения
  • Kore Technology

    

    группа компаний

    КРИОСИСТЕМЫ

     

     

    © 2002-2017

    ГК «КРИОСИСТЕМЫ»

    Все права защищены

    КОНТАКТЫ

    115088, Россия, Москва

    "IQ-park", ул. Угрешская,

    д.2, стр.22

     

    +7 (495) 663-30-39

    +7 (495) 663-30-67

    Товар добавлен в запрос!
    Список отобранного вы можете найти и отредактировать за кнопкой "Отправить запрос".