+7 (495) 663-30-39

+7 (495) 663-30-67

Сканирующие ближнепольные микроскопы (SNOM)

Ближнепольный оптический микроскоп (БОМ, SNOM (англ.)) отличается присутствием в дальней зоне излучения идентифицируемых следов взаимодействия света с микрообъектом (образцом), находящимся в ближнем световом поле на расстоянии намного меньшим длины волны λ <250нм. D (аппертура) также меньше λ <250нм.

Основной характеристикой ближнепольного оптического микроскопа является 3D разрешение, зависящее главным образом от вида наблюдения образца, структуры его поверхности, микрогеометрии зонда. В реальной ситуации, для ближнепольного микроскопа, из-за конечной проницаемости металлического экрана (покрытия) минимальный эффективный радиус диафрагмы заостренного оптического металлизированного волокна определяется глубиной проникновения луча света лазера в металл или толщиной скин-слоя. С учетом этого, предельное разрешение ближнепольного микроскопа, например, для зонда с алюминиевым покрытием в видимом диапазоне спектра составляет 13нм, что соответствует лучшим экспериментальным результатам. В данной ситуации нет физических ограничений в области получения зонда. Так в безаппертурных ближнепольных микроскопах имеется возможность достичь разрешение в 1нм.

Ближнепольные микроскопы были значительно усовершенствованы компанией attocube AG в области управления и контроля расстояния — наконечник зонда — образец для применения этой техники к различным исследовательским задачам. Все системы ближнепольных микроскопов компании применимы для работы в глубоком вакууме и в сильных магнитных полях.

attoSNOM II

attoSNOM III



группа компаний

КРИОСИСТЕМЫ

 

 

© 2002-2017

ГК «КРИОСИСТЕМЫ»

Все права защищены

КОНТАКТЫ

115088, Россия, Москва

"IQ-park", ул. Угрешская,

д.2, стр.22

 

+7 (495) 663-30-39

+7 (495) 663-30-67

Товар добавлен в запрос!
Список отобранного вы можете найти и отредактировать за кнопкой "Отправить запрос".